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场发射透射电子显微镜Tecnai G2 F20
2014-12-26 09:32  

 

 

 

场发射透射电子显微镜

  号:Tecnai G2 F20

生产厂家:美国FEI

性能指标:1. 信息分辨率极限 U-TWIN 0.12 nm; S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm 2. 点分辨率  U-TWIN 0.19 nm ; S-TWIN 0.24 nm ;   X-TWIN 0.25 nm ; TWIN 0.27 nm 3. 加速电压 20-200 kV,连续可调 4. 电子束能量色散 <0.7 eV 5. 最大束流 >100 nA,1nm束斑最大束流>0.5 nA. 6. 样品最大倾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°   Tomography样品杆 +/- 70o 7. EDS立体角   X-TWIN 0.3 sr;S-TWIN/U-TWIN 0.13 sr

用   途:Tecnai G2 F20以其将各种透射电镜技术,包括TEM、HR-TEM、STEM、电子衍射、EDS、三维重构技术,配合相应的制样系统,可实现对不同材料,如陶瓷、金属等有机或无机纳米材料的表征。Tecnai G2的完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。

联系电话:029-86168933 029- 86168934
  址:逸夫楼A—112室

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